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고객의 필요에 가장 정확하게
부합하는 맞춤형 솔루션
UG STANDARD는 XRF 도금두께 측정에 사용되는 표준시편 설계·제작 전문기업으로, 도금두께 표준시편 및 XRF 측정용 표준시편을 측정 목적과 적용 환경에 맞춰 설계·제작합니다.
또한 X선 형광 분석기(XRF)를 비롯한 도금 두께 측정 장비의 교정 또는 성능 확인 과정에서 기준 물질로 활용되는 표준시편을 제작·공급하여, 고객사의 측정 재현성과 품질 관리 기준 설정을 지원합니다.
두께 및 함량 조건에 따른 맞춤형 표준시편을 주문 제작으로 제공하며, 각 제품에는 적용 목적에 따른 측정 확인 자료 또는 관련 문서가 함께 제공됩니다.
얇은 박막 형태 표준시편
(Foil Standard)
서로 다른 소재를 겹쳐 사용하는 방식으로 다양한 측정 조건과 어플리케이션에 적용할 수 있는 표준시편입니다. 다만 박막 형태의 특성상 물리적 손상 가능성이 있어 취급 및 보관 시 주의가 필요합니다.
니켈(Ni), 금(Au), 은(Ag) 등 다양한 금속 성분이 도금된 측정 대상에 적용하기에 적합하며, XRF 도금두께 측정 환경에서 다층 조건 또는 조합 측정 환경에서 활용도가 높은 표준시편입니다.
도금된 형태 표준시편
(Plated Standard)
기판 소재 위에 특정 금속이 직접 도금된 구조의 표준시편으로, 겹쳐 사용하는 방식은 불가능하지만 다층 도금 측정 시 간극 발생으로 인한 측정 오차를 최소화할 수 있는 특징을 가집니다.
도금층이 기판에 직접 형성되어 있어 물리적 손상 위험이 상대적으로 낮고, 취급 및 관리가 용이합니다. 철(Fe) 기판에 아연(Zn) 도금과 같이 단일 소재 기판에 동일 금속이 도금된 측정 대상에 적용하기에 적합합니다.
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측정 오차를 현실적으로 최소화하여 가장 정확한 품질 관리를 가능하게 합니다.